DSpace
Electronic Institutional Repository Donbas State Technical University

Электронный архив ДонГТУ >
Сборник научных трудов ДонГТУ >
Выпуск 28 >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/123456789/500

Название: Методика определения напряженно-деформированного состояния в прокатных швеллерах после локальных термических воздействий
Другие названия: Method of determination of the tense-deformed consisting of rental channels after local thermal influences
Авторы: Иванов, А.П.
Иванова, И.А.
Ivanov, A.P.
Ivanova, I.A.
Ключевые слова: швеллер
швелер
channel
сварной шов
зварний шов
section welded seam
напряженно-деформированное состояние
напружено-деформований стан
tense-deformed condition
Дата публикации: 2009
Издатель: Донбасский государственный технический университет
Библиографическое описание: Иванов А. П. Методика определения напряженно-деформированного состояния в прокатных швеллерах после локальных термических воздействий / А. П. Иванов, И. А. Иванова // Сб. науч. тр. Донбас. гос. техн. ун-та. Вып. 28. - Алчевск, 2009. - С. 260-268.
Краткий осмотр (реферат): У статті розглядаються зміни залишково-напруженого стану швелерів (упоперек та вздовж зразків, що випробовувались) у залежності від положення зварних швів.
В статье рассматриваются изменения остаточно-напряженного состояния швеллеров (поперек и вдоль испытываемых образцов), в зависимости от положения сварных швов.
The changes of the remaining-tense state of channels (broad wise and along the tested standards) are examined in the article, depending on position of the welded stitches.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://hdl.handle.net/123456789/500
Располагается в коллекциях:Научные издания каф. Строительных конструкций
Выпуск 28

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
261-269 Иванов.pdf2,01 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь