DSpace
Electronic Institutional Repository Donbas State Technical University

Электронный архив ДонГТУ >
Сборник научных трудов ДонГТУ >
Выпуск 25 >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://hdl.handle.net/123456789/401

Название: Математическое моделирование напряженного состояния по экспериментальным граничным условиям
Авторы: Данько, А. В.
Кулик, А. Н.
Ключевые слова: математическое моделирование
математичне моделювання
mathematical simulation
напряженное состояние
напружений стан
stress state
пластическая деформация
пластична деформація
plastic deformation
MathCAD
деформация
деформація
deformation
прокатка
прокатка
rolling
плоская деформация
плоска деформація
flat deformation
Дата публикации: 2007
Издатель: Донбасский государственный технический университет
Библиографическое описание: Данько А. В. Математическое моделирование напряженного состояния по экспериментальным граничным условиям / А. В. Данько, А. Н. Кулик // Сб. науч. тр. Донбсс. гос. техн. ун-та. Вып. 25. - Алчевск, 2007. - С.198-203.
Краткий осмотр (реферат): Представлені програмні засоби для математичного моделювання напруженого стану при плоскій деформації з використанням експериментально знайдених граничних умов.
Представлены программные средства для математического моделирования напряженного состояния при плоской деформации с использованием экспериментально найденных граничных условий.
Programmatic means for the mathematical modelling of the tense state during flat deformation with the use of the experimentally found boundary terms are represented.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://hdl.handle.net/123456789/401
Располагается в коллекциях:Научные работы студентов каф. Обработки металлов давлением и металловедения
Выпуск 25

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
198-203 Данько.pdf1,31 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
View Statistics

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь