DSpace
Electronic Institutional Repository Donbas State Technical University

Электронный архив ДонГТУ >

Просмотр собрания по группе - Авторы Емец, Е. В.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я І Ї Є
или введите несколько первых букв:   
Сортировка: Упорядочнить: Вывести на страницу: Авторы:
Отображение результатов 1 до 10 из 10
Дата випускНазваАвторы(ы)
2000Анализ влияния податливости основания на прочность элементов многоэтажных рамЕмец, Е. В.; Emetc, E. V.
2008Анализ экспериментальных параметров напряженно-деформированного состояния изгибаемых элементовЕмец, Е. В.; Emetc, Е. V.
2000Изменение напряженно-деформированного состояния в ригеле при действии критических нагрузокЕмец, Е. В.; Emetc, E. V.
2011Исследование напряженно-деформированного состояния многоэтажного здания на деформируемом основании с использованием ПК "ЛИРА"Емец, Е. В.; Emets, E. V.
2013Исследования напряженно-деформированного состояния рам каркасных зданий при воздействии на них перемещений податливого основанияЕмец, Е. В.; Ємець, О. В.; Emets, E. V.
2006К вопросу об экспериментальных исследованиях работы несущих железобетонных конструкций каркасных зданийЕмец, Е. В.; Emetc, Е. V.
2005Определение жесткостных характеристик железобетонных элементов в зависимости от их напряженно-деформированного состоянияЕмец, Е. В.; Emetc, E. V.
2010Численные исследования влияния податливости основания на прочность элементов многоэтажных рамЕмец, Е. В.; Emets, E. V.
2015Численные исследования несущей способности железобетонных внецентренно сжатых элементов при однократных и повторных нагруженияхКарапетян, С. Х.; Емец, Е. В.; Коняшкина, О. А.; Карапетян, С. Х.; Ємець, О. В.; Коняшкіна, О. А.; Karapetyan, S. Kh.; Yemets, E. V.; Koniashkina, O. A.
2003Численные и эксперисентальные исследования эксплуатируемого цеха стальной дроби (ЦСД) “АМК”Иванов, А. П.; Емец, Е. В.; Ivanov, A. P.; Emetc, E. V.
Отображение результатов 1 до 10 из 10

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь