DSpace
Electronic Institutional Repository Donbas State Technical University

Электронный архив ДонГТУ >

Просмотр собрания по группе - Авторы Voron’ko, M.I.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я І Ї Є
или введите несколько первых букв:   
Сортировка: Упорядочнить: Вывести на страницу: Авторы:
Отображение результатов 5 до 10 из 10
< назад 
Дата випускНазваАвторы(ы)
2019Использование метода дугового глубинного восстановления для извлечения кремния из песка в железоуглеродистые расплавыКуберский, С.В.; Проценко, М.Ю.; Воронько, М.И.; Белан, И.А.; Куберський, С.В.; Проценко, М.Ю.; Воронько, М.І.; Белан, І.О.; Kuberskiy, S.V.; Protsenko, M.Yu.; Voron’ko, M.I.; Belan, I.A.
2020Использование техногенных отходов ферросплавного производства для внепечной обработки железоуглеродистых расплавовПроценко, М.Ю.; Воронько, М.И.; Protsenko, M.Yu.; Voron’ko, M.I.
2020Исследование влияния состава рудно-восстановительной смеси процесса дугового глубинного восстановления кремния на ее удельное электросопротивлениеПроценко, М.Ю.; Воронько, М.И.; Проценко, В.И.; Protsenko, M.Yu.; Voron’ko, M.I.; Protsenko, V.I.
2018Исследование влияния состава электродной смеси на её удельное электросопротивлениеКуберский, С.В.; Проценко, М.Ю.; Воронько, М.И.; Проценко, В.И.; Куберський, С.В.; Проценко, М.Ю.; Воронько, М.І.; Проценко, В.І.; Kuberskiy, S.V.; Protsenko, M.Yu.; Voron’ko, M.I.; Protsenko, V.I.
2020Определение прочности рудно-восстановительной смеси процесса дугового глубинного восстановления кремния в зависимости от ее составаПроценко, М.Ю.; Воронько, М.И.; Билан, И.А.; Protsenko, M.Yu.; Voron’ko, M.I.; Belan, I.A.
2020Усовершенствование методики определения энергетических затрат процесса дугового глубинного восстановленияКуберский, С.В.; Проценко, М.Ю.; Воронько, М.И.; Заведия, В.С.; Kuberskiy, S.V.; Protsenko, M.Yu.; Voron’ko, M.I.; Zavediya, V.S.
Отображение результатов 5 до 10 из 10
< назад 

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь